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高速仿真解决方案
SnpExpert – S参数处理和分析工具

产品介绍

      Xpeedic SnpExpert提供了一种快速了解系统中无源互连器件电气特性的方法,不仅可以查看频域的S参数,还可以检查时域TDR信息。一键式差分对定义和受害/干扰源设置,以及内置的NEXT, FEXT, PSXT, ILD, ICR和ICN计算模块,有助于用户快速评估串扰特性。



产品特色

  • SnpExpert可以快速查看S参数,实现互连结构、连接器、封装、系统等器件的电气性能分析。

  • SnpExpert支持在频域和时域范围内绘制各种曲线。

  • SnpExpert使串扰分析变得更加容易,支持快速设置攻击网络端口和受害网络端口,支持快速计算PSXT、ILD、ICR、 ICN和COM等指标。

  • SnpExpert支持多种高速接口的规范检查。

  • SnpExpert集成的TOD去嵌方法,支持各种夹具结构,包含2x Thru和1x Open、Short、Reflect;TOD去嵌算法通过IEEE P370规范验证。

  • SnpExpert可通过S参数快速提取精确的Dk值和Df值。

  • SnpExpert可快速查看S参数的质量,并检查S参数的因果性、无源性和互异性等指标。



主要功能


S参数质量检查

  • 用评分的方式显示S参数的因果性、互异性、无源性等指标。

  • 支持在频域和时域内检查因果性、互异性和无源性。

  • 支持修正S参数的无源性、互异性和因果性。

Thru-Only De-embedding(TOD)

内置TOD算法帮助SI工程师去除夹具的影响。

  • 支持夹具的结构包含2x Thru和1x Open、Short、Reflect。

  • 支持对多端口S参数进行去嵌。

在频域中画图

  • S, Y, Z参数, 差分S参数, Group delay, VSWR, 自定义函数。

在时域中画图

  • 支持查看TDR、TDT。

  • 支持计算单端通道与差分通道的对内和对外时延差。

高速通道分析

  • 支持快速查看FEXT, NEXT,PSXT, ILD, ICN, ICR。

  • 支持COM分析。

  • 支持USB Type-C协议分析。

  • 支持DDR通道的快速串扰分析。

DK/DF提取

  • 帮助工程师基于测试数据分析板材的材料特性。

  • Optimization-based方法提取的DK/DF值与测试数据拟合度较高。

一键式生成报告

  • SnpExpert 支持快速生成报告,包含Word/PPT/HTML等格式。


 

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