如何实现 “无阻抗校准的TOD去嵌”?

如何实现 “无阻抗校准的TOD去嵌”?

随着数据传输速率的不断提升,无源互连通道所承载的传输速率已经超过 67Gbps 甚至更高。为了能够准确预估无源通道的真实特性,需要具备更高带宽的测量仪器。然而,在现实的高速测量过程中,工程师难免都会遇到去嵌的问题:即待测器件无法与仪器直接相连,必须在两者之间插入转换夹具才能够实现测量,此时的测量结果同时包含了待测器件和夹具的效应,而在最终的结果中需要把夹具效应去除。

芯和半导体的SnpExpert针对不同应用场景提供了两种去嵌方法,包括Open-Short/Thru和 Thru-Only De-embedding(TOD)。本文着重介绍如何在不进行阻抗校准的情况下进行TOD去嵌,并通过实际案例,详细演示去嵌流程与结果。

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